HAYASHI DENKO薄膜測(cè)溫電阻CRZ-2005-500
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產(chǎn)品名稱:
HAYASHI DENKO薄膜測(cè)溫電阻CRZ-2005-500
產(chǎn)品型號(hào):
CRZ-2005-500
產(chǎn)品廠商:
巖瀨商事
產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹
HAYASHI DENKO薄膜測(cè)溫電阻CRZ-2005-500HAYASHI DENKO薄膜測(cè)溫電阻CRZ-2005-500
HAYASHI DENKO薄膜測(cè)溫電阻CRZ-2005-500
的詳細(xì)介紹
HAYASHI DENKO薄膜測(cè)溫電阻CRZ-2005-500 產(chǎn)品說(shuō)明:
1、全ての素子は抵抗値検査が行われ、個(gè)々に抵抗値が表記されます。
2、*先端の薄膜作成技術(shù)やフォトリソグラフィ技術(shù)、大量生産システムにより高品質(zhì)な抵抗素子が安価に提供できます。
3、小型化の実現(xiàn)により応答速度に優(yōu)れています。
4、クラスA, Bに加え、より高精度のクラス1/3Bと、より安価なクラス2Bの提供もしています。
5、高溫でも安定性に優(yōu)れています。
6、薄膜と基板が一體である事で、巻線素子に比べ耐振動(dòng)性、耐衝撃性が優(yōu)れています。
7、Pt100Ωに加え、精密測(cè)定に*適な高抵抗仕様(Pt500Ω,Pt1000Ω)もご提供可能です。
8、抵抗値の許容差はJISとIEC(International Electrotechnical Commission)に準(zhǔn)拠しています。
9、歐州RoHS指令に準(zhǔn)拠しています。
HAYASHI DENKO薄膜測(cè)溫電阻CRZ-2005-500 產(chǎn)品構(gòu)造:
HAYASHI DENKO薄膜測(cè)溫電阻CRZ-2005-500 產(chǎn)品參數(shù):
モデル
|
素子サイズ(mm)
|
素子數(shù)
|
抵抗値
|
規(guī)定電流
|
リード寸法(mm)
|
クラス
|
使用溫度範(fàn)囲
|
【幅×長(zhǎng)さ×高さ】
|
【幅×厚さ×長(zhǎng)さ】
|
CRZ-1632-100
|
1.6×3.2×1.0
|
シングル
|
Pt 100 Ω
|
1mA以下
|
0.25×0.15×12
|
1/3B
|
?クラス1/3B
|
CRZ-2005-100
|
2.0×5.0×1.0
|
A
|
-20 ~ +250℃ ?クラスA
|
CRZ-2005-500
|
2.0×5.0×1.0
|
Pt 500 Ω
|
0.5mA以下
|
B
|
-40 ~ +400℃ ?クラスB,2B
|
CRZ-2005-1000
|
2.0×5.0×1.1
|
Pt 1000Ω
|
2B
|
-70 ~ +500℃
|
HAYASHI DENKO薄膜測(cè)溫電阻CRZ-2005-500 誤差和溫度系數(shù):
クラス名
|
許容差(℃)
|
0℃における抵抗許容差
|
溫度係數(shù)(Ω / Ω)
|
1/3B
|
±(0.1+0.0017ltl)
|
±0.04Ω
|
0.003851±0.000004
|
A
|
±(0.15+0.002ltl)
|
±0.06Ω
|
0.003851±0.000005
|
B
|
±(0.3+0.005ltl)
|
±0.012Ω
|
0.003851±0.000012
|
2B
|
±(0.6+0.01ltl)
|
±0.025Ω
|
0.003851±0.000024
|
HAYASHI DENKO薄膜測(cè)溫電阻CRZ-2005-500 試驗(yàn)數(shù)據(jù):
項(xiàng)目
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試験條件
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特性値
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安定性
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常溫 1000 時(shí)間
|
0℃における抵抗値変化は ±0.02℃以內(nèi)
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耐高溫性
|
200℃, 1000 時(shí)間
|
0℃における抵抗値変化は±0.05℃ (200℃)以內(nèi)
|
400℃, 1000 時(shí)間
|
0℃における抵抗値変化は ±0.10℃ (400℃)以內(nèi)
|
耐振動(dòng)性
|
剛性のある取付具に固定し
|
0℃における抵抗値変化は±0.05℃ (200℃)以內(nèi)
|
以下の振動(dòng)條件を印加する
|
|
周波數(shù)範(fàn)囲:10Hz~150Hz
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加速度:20m/s2
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挿引サイクル:10回
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HAYASHI DENKO薄膜測(cè)溫電阻CRZ-2005-500 響應(yīng)速度(時(shí)間常數(shù)63.2 %)sec:
モデル
|
靜止空気中
|
撹拌水中
|
CRZ-1632-100
|
4.3
|
0.3
|
CRZ-2005-100,500,1000
|
4.8
|
0.3
|
HAYASHI DENKO薄膜測(cè)溫電阻CRZ-2005-500 自我加熱特性:
モデル
|
環(huán)境條件
|
自己加熱量/℃
|
0.1mA
|
0.5mA
|
1mA
|
(2mA)*
|
CRZ-1632-100
|
靜止空気中?MgO充填なし
|
|
0.03
|
0.13
|
0.52
|
靜止空気中?MgO充填
|
|
0.01
|
0.03
|
0.11
|
CRZ-2005-100
|
靜止空気中?MgO充填なし
|
|
0.03
|
0.12
|
0.49
|
靜止空気中?MgO充填
|
|
0.01
|
0.02
|
0.09
|
CRZ-2005-1000
|
靜止空気中?MgO充填なし
|
0.01
|
0.28
|
1.13
|
4.51
|
靜止空気中?MgO充填
|
0
|
0.05
|
0.19
|
0.76
|
1Pt 1000Ω2B-70 *Pt100Ωは1mA、Pt500Ω、Pt1000Ωは0.5mAを超える電流は規(guī)定外になります。
測(cè)定方法は以下になります
MgO充填なし???φ12×t1の金屬保護(hù)管に素子が觸れないように挿入し測(cè)定
MgO充填???????φ8×t1の金屬保護(hù)管に素子を挿入し、酸化マグネシウム粉を保護(hù)管に充填し測(cè)定
測(cè)溫抵抗體鉑電阻值100的標(biāo)準(zhǔn) 請(qǐng)點(diǎn)擊查閱詳細(xì)數(shù)據(jù)